奧林巴斯Olympus 38DL PLUS超聲波測厚儀
38DL PLUS測厚儀是一款開創超聲測厚技術新時代的創新型儀器。這款手持式測厚儀可完美地適用于幾乎所有超聲測厚應用，而且與所有雙晶和單晶探頭完全兼容。功能齊全的38DL PLUS測厚儀可用于各種應用，包括使用雙晶探頭對內壁腐蝕的管件進行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進行的極其精確的壁厚測量。
38DL PLUS的標準配置帶有很多既強大又易于使用的測量功能，以及一些專用于某些特殊應用的軟件選項。其密封機殼的設計符合IP67評級要求，可以抵御極其潮濕或多沙塵的嚴酷的環境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測厚儀顯示屏無論在明亮的陽光下還是在完全的黑暗中都能具有極佳的可視性。測厚儀的鍵區既簡潔又符合人體工程學的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪問所有功能。
超聲波測厚儀產品特點：
可與雙晶和單晶探頭兼容。
寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據材料和所選探頭而定。
使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
內部氧化層/沉積物軟件選項。
對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。
使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
厚度、聲速和渡越時間測量。
差分模式和縮減率模式。
時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數。
帶有數字式過濾器的Olympus高動態增益技術。
用于自定義V聲程補償的V聲程創建功能。
設計符合EN15317標準。
超聲波測厚儀技術參數：
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38DL PLUS超聲測厚儀
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測量
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雙晶探頭測量模式
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從激勵脈沖后的精確延時到第一個回波之間的時間間隔。
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穿透涂層測量模式
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利用單個底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測量金屬的實際厚度和涂層厚度。
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穿透漆層回波到回波測量模式
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在兩個連續底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。
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單晶探頭測量模式
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模式1：激勵脈沖與第一個底面回波之間的時間間隔。
模式2：延遲線回波與第一個底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。
模式3：在激勵脈沖之后，位于第一個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。
氧化層模式：可選。
多層模式：可選。
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厚度范圍
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0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。
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材料聲速范圍
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0.508 mm/μs～13.998 mm/μs
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分辨率（可選擇）
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低分辨率：0.1毫米
標準分辨率：0.01毫米
高分辨率（可選項）：0.001毫米
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探頭頻率范圍
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標準：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB）
高穿透（可選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
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一般規格
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工作溫度范圍
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-10°C～50°C
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鍵區
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密封、以色彩區分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋。
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機殼
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防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼；機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。
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外型尺寸（寬 x 高 x 厚）
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總體尺寸：125毫米x211毫米x46毫米
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重量
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0.814公斤
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電源
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AC/DC適配器，24 V；鋰離子電池，23.760 Wh；或4節AA輔助電池。
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鋰離子電池供電時間
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工作時間：最少12.6小時，一般14小時，最多14.7小時。快速充電：2小時到3小時。
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標準
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設計符合EN15317標準。
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顯示
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彩色透反VGA顯示
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液晶顯示，顯示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米
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檢波
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全波、RF波、正半波、負半波
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輸入/輸出
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USB
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1.0從接口。
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RS-232
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有。
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存儲卡
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最大容量：2 GB外置MicroSD存儲卡。
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視頻輸出
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VGA輸出標準。
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內置數據記錄器
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數據記錄器
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38DL PLUS通過標準RS-232串口或USB端口識別、存儲、回放、清除、傳輸厚度讀數、波形圖像和儀器配置信息。
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容量
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475000個厚度測量讀數，或20000個帶厚度值的波形。
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文件名稱、ID編碼及注釋
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32位字符的文件名，20位字符的字母數字位碼，每個位有四個注釋。
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文件結構
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9個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構。
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報告
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機載報告總結了數據統計、帶有位置信息的最小值/最大值、最小值回顧、文件比較及報警報告。
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