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【產品名稱】：C2+/C2si+共聚焦顯微鏡系統

【產品型號】：C2+/C2si+

日本尼康共聚焦顯微鏡 C2+/C2si+共聚焦顯微鏡系統**產品簡介

實驗室必備顯微設備

2+共聚焦顯微鏡系統是新研發的Nikon 共聚焦儀器的一部分，新開發的產品為必要的實驗室顯微鏡工具。由于產品有令人難以置信的穩定性，操作簡易，且有*越的光學性能和高速圖像采集（可達100  幀/秒*）能力。 C2+可作為**顯微鏡工具（新購置），或將已有的尼康顯微鏡升級為C2+共聚焦系統。

配置Ni-E正置顯微鏡

日本尼康共聚焦顯微鏡 C2+/C2si+共聚焦顯微鏡系統**產品性能和特點：

1、圖像質量

Nikon****的光學組件和久經考驗的高效光學設計可在*遠的工作距離下提供*明亮與*清晰的圖像。

?高效掃描頭和檢測器

具備方便小巧的掃描頭， 使C2+可用于各類Nikon 顯微鏡。C2+使用高精度振鏡與上等圓形光學針孔，分離式檢測有效隔離熱原同噪音，可獲取低噪音，高對比度與高品質的共聚焦圖像。新開發的掃描驅動系統和Nikon*有的圖像校正技術，允許8幀/秒（512 x 512像素）和100幀/秒（512 x 32 像素）的高速成像。

?高性能光學鏡頭  

CFI復消色差λS系列

此系列高數值孔徑（NA）物鏡為共聚焦拍攝的理想之選，其對寬波長范圍自紫外光具有色差校正功能。尤其是LWD 40 ×WI物鏡色差校正可達紅外范圍。使用Nikon*有的納米晶體涂層技術可有效增加光線透過率。

CFI復消色差TIRF 系列

此系列物鏡的NA值為1.49 （使用標準的蓋玻片和浸油），在Nikon物鏡中具備*高的分辨率。配備溫度校正環可在23°C～37°C溫度范圍對圖像質量進行校正。

?高清晰度微分干涉（DIC）圖像

C2+能同時獲得三個通道的熒光，或同時實現三通道熒光與透射微分干涉（DIC）的觀察。高品質DIC圖像和熒光圖像可以疊加,以便進行形態分析。

2、高功能            

高效圖像處理軟件NIS-Elements提供各種圖像處理和分析功能。并可從圖像中提取數據。此外，NIS-Element 可實現Nikon 顯微鏡和其他第三方外設，如EMCCD相機和濾光輪的直接操作，使其可適用于各類實驗應用。

?多種拍攝模式  

單一軟件包即可提供各種成像方法，如共聚焦、寬視野、TIRF 、光活化，并同時具有圖像的處理、分析和呈現的功能。用戶可在統一的界面與工作流程中輕松掌握控制不同的成像系統。

3、靈活性          

C2+可與正置、倒置、電生理和宏觀成像顯微鏡聯合使用，且可以與各種高質量研究試驗系統聯合使用。可用NIS-Element 軟件控制**的尼康顯微鏡系統。

? TIRF/光活化-C2+多模式成像系統

可整合選配的TIRF 激光照明模塊和與光活化模塊，實現高S/N比單分子成像，并捕捉光活化與光轉化中熒光蛋白熒光特征變化圖像。

? AZ-C2+宏觀共聚焦系統

在高清晰度的大視野下，超過1 cm的大樣本都可獲取高S/N比的圖像。AZ-C2+可獲取完整樣品的圖像，如胚胎，單次拍照，高達2048×2048像素分辨率，并可使用C2si+獲得32通道光譜數據。可將低倍率與高倍率物鏡，光學變焦和共焦掃描變焦功能相結合，從宏觀到微觀連續成像。

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